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一種測定低噪放退化功率閾值和損傷功率閾值的方法

3292018/08/27
基本信息
  • 成果類型 高等院校
  • 委托機(jī)構(gòu) 西安電子科技大學(xué)
  • 成果持有方 西安電子科技大學(xué)
  • 行業(yè)領(lǐng)域 微電子
  • 項(xiàng)目名稱 一種測定低噪放退化功率閾值和損傷功率閾值的方法
  • 知識(shí)產(chǎn)權(quán) 發(fā)明專利
  • 項(xiàng)目簡介 本發(fā)明公開了一種測定低噪放退化功率閾值和損傷功率閾值的方法,其包括以下步驟:一、構(gòu)建測試平臺(tái);二、構(gòu)造注入信號(hào):三、測試:(1)測量待測樣品的小信號(hào)S參數(shù)|S21|和噪聲系數(shù)NF,(2)對(duì)待測樣品持續(xù)注入一定時(shí)間,(3)測量本次注入后待測樣品的|S21|和NF,(4)增大注入信號(hào)平均功率,反復(fù)進(jìn)行(2)和(3)兩步,直到|S21|和NF發(fā)生劇烈惡化為止;四、繪制|S21|和NF隨著注入功率Pin增大而變化的雙y軸坐標(biāo)系曲線圖,從中提取退化功率閾值和損傷功率閾值。本發(fā)明的有益之處在于:功率注入效果更好,閾值測量結(jié)果更能反映出低噪放實(shí)際工作條件下的抗功率程度;可得到退化功率閾值,滿足了低噪放高可靠性和用于高靈敏度電子設(shè)備中低噪聲的要求。
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交易信息
  • 意向交易額 面議
  • 掛牌時(shí)間 2017/12/12
  • 委托機(jī)構(gòu) 西安電子科技大學(xué)
  • 聯(lián)系人姓名 王小剛
  • 聯(lián)系人電話 15802954800
  • 聯(lián)系人郵箱 745490733@qq.com
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