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基本信息
- 成果類型 高等院校
- 委托機(jī)構(gòu) 西安電子科技大學(xué)
- 成果持有方 西安電子科技大學(xué)
- 行業(yè)領(lǐng)域 微電子
- 項(xiàng)目名稱 基于機(jī)電耦合的分布式MEMS移相器電容橋高度公差的確定方法
- 知識產(chǎn)權(quán) 發(fā)明專利
- 項(xiàng)目簡介 本發(fā)明公開了一種基于機(jī)電耦合的分布式MEMS移相器電容橋高度公差的確定方法,包括:1)確定分布式MEMS移相器的結(jié)構(gòu)參數(shù)、材料屬性和電磁工作參數(shù);2)確定移相器等效電路參數(shù);3)確定移相器的位數(shù)k;4)確定移相器的標(biāo)準(zhǔn)電容橋高度;5)給出初始電容橋的偏移量;6)利用單個電容橋的機(jī)電耦合模型,計算單個電容橋產(chǎn)生的相移量;7)計算移相器的相移量;8)計算移相器的偏差量;9)判斷該電容橋高度情況下的移相器偏差量是否滿足公差要求。本發(fā)明利用移相器電容橋結(jié)構(gòu)參數(shù)和相移量之間的機(jī)電耦合模型,直接得到電容橋結(jié)構(gòu)參數(shù)對移相器相移量的影響,快速給出合理的電容橋結(jié)構(gòu)公差精度,降低加工成本和難度,縮短研制周期。
交易信息
- 意向交易額 面議
- 掛牌時間 2018/01/16
- 委托機(jī)構(gòu) 西安電子科技大學(xué)
- 聯(lián)系人姓名 王小剛
- 聯(lián)系人電話 15802954800
- 聯(lián)系人郵箱 745490733@qq.com
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