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一種基于N型納米薄層來提高N型DiMOSFET溝道遷移率方法

19582020/06/16
基本信息
  • 成果類型 高等院校
  • 委托機構(gòu) 西安電子科技大學(xué)
  • 成果持有方 西安電子科技大學(xué)
  • 行業(yè)領(lǐng)域 微電子
  • 項目名稱 一種基于N型納米薄層來提高N型DiMOSFET溝道遷移率方法
  • 知識產(chǎn)權(quán) 發(fā)明專利
  • 項目簡介 本發(fā)明公開了一種基于N型納米薄層來提高N型DiMOSFET溝道遷移率方法,在已有離子注入工藝基礎(chǔ)上將注入形成對導(dǎo)電溝道層注氮改為由外延形成的N+外延層a對導(dǎo)電溝道層注氮;對于N溝DiMOSFET器件而言,該外延厚度為2nm~5nm,摻雜濃度為1×1018cm?3~1×1019cm?3,隨后在柵氧化層的工藝中被氧化,只是柵氧化層與SiC界面含氮離子,減少了表面的懸掛鍵,與已有的離子注入氮元素相比,本發(fā)明通過引入外延層a,避免了離子注入工藝引起的SiC和SiO2的接觸界面粗糙,高晶格損傷,低激活率等問題,得到了一種了高電子遷移率,低導(dǎo)通電阻,低功耗的SiC DiMOSFET器件。
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交易信息
  • 意向交易額 面議
  • 掛牌時間 2021/06/16
  • 委托機構(gòu) 西安電子科技大學(xué)
  • 聯(lián)系人姓名 王小剛
  • 聯(lián)系人電話 15802954800
  • 聯(lián)系人郵箱 745490733@qq.com
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