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2019/12/27
咨詢成果
發(fā)布成果基本信息
- 成果類型 高等院校
- 委托機(jī)構(gòu) 西安電子科技大學(xué)
- 成果持有方 西安電子科技大學(xué)
- 行業(yè)領(lǐng)域 其他電子信息
- 項(xiàng)目名稱 一種基于最小中值梯度濾波的壞點(diǎn)檢測(cè)及校正方法
- 知識(shí)產(chǎn)權(quán) 實(shí)用新型
- 項(xiàng)目簡(jiǎn)介 本發(fā)明公開了一種基于最小中值梯度濾波的壞點(diǎn)檢測(cè)及校正方法，以待檢測(cè)像素點(diǎn)為中心的5×5Bayer陣列，以中心像素點(diǎn)為基準(zhǔn)，對(duì)水平，豎直，對(duì)角線，斜對(duì)角線的每個(gè)方向分別計(jì)算三個(gè)梯度的絕對(duì)值，取出每個(gè)方向梯度絕對(duì)值的中值，再求出這四個(gè)中值的最小值，作為邊緣方向即壞點(diǎn)校驗(yàn)方向，對(duì)于最小中值梯度方向，滿足中間梯度絕對(duì)值大于同方向另外兩個(gè)梯度絕對(duì)值和的某整數(shù)倍，為壞點(diǎn)，用該方向的像素值校驗(yàn)之；否則為正常點(diǎn)，直接輸出。對(duì)于某些特殊值域的點(diǎn)，采用更加嚴(yán)格的判決條件以減少邊緣點(diǎn)處的漏檢，對(duì)于對(duì)角線或反對(duì)角線處，在梯度滿足某些條件時(shí)采用更加寬松的判決條件以減少邊緣處的誤檢。本發(fā)明快速濾除壞點(diǎn)，誤檢率和漏檢率較低，且能完整保留圖像邊緣。
交易信息
- 意向交易額 面議
- 掛牌時(shí)間 2020/12/27
- 委托機(jī)構(gòu) 西安電子科技大學(xué)
- 聯(lián)系人姓名 王小剛
- 聯(lián)系人電話 15802954800
- 聯(lián)系人郵箱 745490733@qq.com
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