您當(dāng)前的位置:成果庫 > 基于張量半監(jiān)督標(biāo)度切維數(shù)約減的高光譜圖像分類方法
基本信息
- 成果類型 高等院校
- 委托機(jī)構(gòu) 西安電子科技大學(xué)
- 成果持有方 西安電子科技大學(xué)
- 行業(yè)領(lǐng)域 數(shù)據(jù)分析處理
- 項(xiàng)目名稱 基于張量半監(jiān)督標(biāo)度切維數(shù)約減的高光譜圖像分類方法
- 知識(shí)產(chǎn)權(quán) 發(fā)明專利
- 項(xiàng)目簡介 本發(fā)明公開一種基于張量半監(jiān)督標(biāo)度切維數(shù)約減的高光譜圖像分類方法,主要解決高光譜圖像維數(shù)過高導(dǎo)致計(jì)算量大以及現(xiàn)有方法丟失空間信息的問題。其實(shí)現(xiàn)步驟是:將高光譜數(shù)據(jù)集表示成具有全波段的子數(shù)據(jù)立方體集合;從子數(shù)據(jù)立方體集合中選出有標(biāo)記訓(xùn)練集、測試集和總訓(xùn)練集;構(gòu)造有標(biāo)記訓(xùn)練集的類間、類內(nèi)不相似性矩陣和總訓(xùn)練集的樣本相似性矩陣;由以上三個(gè)矩陣構(gòu)造張量半監(jiān)督標(biāo)度切目標(biāo)函數(shù);對目標(biāo)函數(shù)求解出投影矩陣;將有標(biāo)記訓(xùn)練集和測試集投影到低維空間得到新的有標(biāo)記訓(xùn)練集和測試集;將新的有標(biāo)記訓(xùn)練集和測試集輸入支撐矢量機(jī)進(jìn)行分類,得到測試集的類別信息。本發(fā)明能獲得較高的分類正確率,可用于地圖制圖,植被調(diào)查。
交易信息
- 意向交易額 面議
- 掛牌時(shí)間 2018/03/13
- 委托機(jī)構(gòu) 西安電子科技大學(xué)
- 聯(lián)系人姓名 王小剛
- 聯(lián)系人電話 15802954800
- 聯(lián)系人郵箱 745490733@qq.com
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